仪器介绍--扫描电子显微镜(SEM)
扫描电子显微镜（SEM）运用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统收集被测样品的物理、化学性质信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构及内部电场或磁场等。随着科技的进步，SEM的放大倍数可达数十万倍，分辨率达到纳米级别，是形貌和成分分析领域的重要工具。
SEM是一种多功能仪器，具备众多优越性能，应用广泛。例如：(1)观测纳米材料的形貌，对纳米材料的组成进行成分分析；(2)使用SEM，可分析断裂机理，明确断裂类型，判定裂纹源位置和扩展方向，明确金属材料的主要断裂机理；(3)生物试样观察时，电子照射面引起的损伤和污染程度极小，对某些生物试样的观察具有重要意义；(4)样品室内配备加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件，可利用SEM观察相变、断裂等动态变化过程。粉末、液体、薄膜、块体均适用。粉末样品质量不超过10mg，块体样品直径≤1cm，厚度＜1cm，样品总质量不超过200g。
希望通过以上信息，大家对SEM测试有更深入的了解。如有测试需求，可私信联系。祝各位科研顺利。
SEM是一种多功能仪器，具备众多优越性能，应用广泛。例如：(1)观测纳米材料的形貌，对纳米材料的组成进行成分分析；(2)使用SEM，可分析断裂机理，明确断裂类型，判定裂纹源位置和扩展方向，明确金属材料的主要断裂机理；(3)生物试样观察时，电子照射面引起的损伤和污染程度极小，对某些生物试样的观察具有重要意义；(4)样品室内配备加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件，可利用SEM观察相变、断裂等动态变化过程。粉末、液体、薄膜、块体均适用。粉末样品质量不超过10mg，块体样品直径≤1cm，厚度＜1cm，样品总质量不超过200g。
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